設備・装置名 | X線回折装置 |
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技術相談 | 可能 |
共同研究 | 可能 |
管理担当者 | 主担当:物質・生物系長 |
副担当:なし | |
設置場所 | 物質・生物系棟1F,X線室 |
仕様 | (1) SmartLab(リガク) (2) 回転対陰極式9kW(45kW, 200mA) (3) 光学系切替による多様な測定が可能(集中光学系,平行ビーム光学系,微小部光学系,透過小角散乱光学系,In-plane回折光学系) |
主な用途 | (1) 集中光学系による多結晶試料測定 (2) 平行ビーム光学系による薄膜試料測定 (3) 単結晶試料,膜厚測定 (4) 透過小角散乱光学系によるナノ材料の評価 (5) 微小部光学系による微小領域・微量測定 (6) In-plane光学系による極薄膜測定,深さ方向分析 |
キーワード | 結晶構造解析、定性分析(化合物同定)、薄膜測定、多層膜測定 |