X線回折装置

設備・装置名 X線回折装置
技術相談 可能
共同研究 可能
管理担当者 主担当:物質工学科 野中利瀬弘
副担当:物質工学科 野坂肇佐藤恒之丸山耕一
設置場所 物質工学科棟1F,X線室
仕様

(1) SmartLab(リガク)

(2) 回転対陰極式9kW(45kW, 200mA)

(3) 光学系切替による多様な測定が可能(集中光学系,平行ビーム光学系,微小部光学系,透過小角散乱光学系,In-plane回折光学系)

主な用途

(1) 集中光学系による多結晶試料測定

(2) 平行ビーム光学系による薄膜試料測定

(3) 単結晶試料,膜厚測定

(4) 透過小角散乱光学系によるナノ材料の評価

(5) 微小部光学系による微小領域・微量測定

(6) In-plane光学系による極薄膜測定,深さ方向分析

キーワード 結晶構造解析、定性分析(化合物同定)、薄膜測定、多層膜測定

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