原子間力・スキャニングマイクロプローブ顕微鏡(AFM/SPM)

設備・装置名 原子間力・スキャニングマイクロプローブ顕微鏡(AFM/SPM)
技術相談 不可
共同研究 可能
管理担当者 主担当:物質工学科・丸山耕一
副担当:なし
設置場所 地域共同テクノセンター・テクノラボ
仕様

(1) Agilent Technologies Co. LTD. 5100

(2) AFMスキャナ・STMスキャナ

(3) カバースリップ・ステージ

(4) コンタクト/AACモード・STMモード

(5) テフロン製電気化学セル

主な用途

(1) 原子間力顕微鏡(AFM)(導電性物質、酸化物・高分子等の誘電性・半導体物質の組織・分子・原子構造)

(2) AACモードによる、原子間力・磁気力・電気力・表面電位・ピエゾ応答検出

(3) 走査トンネル顕微鏡(STM)(導電性物質の表面や吸着物質の電子状態や構造に起因するトンネル電流検出)

(4) STMによる電気化学計測・電気化学マニピュレーション

キーワード 原子間力・磁気力・電気力・表面電位・ピエゾ応答・トンネル電流・電気化学計測・電気化学マニピュレーション

設備の画像

 

Contact お問い合わせ

疑問などありましたらお気軽にお尋ねください。

ニーズ・シーズ調査フォームへ

参加申請フォーム(募集中)へ

お問い合わせフォームへ

address 連絡先

秋田工業高等専門学校
COC+事務局

〒011-8511
秋田県秋田市飯島文京町1番1号

TEL:018-847-6108(COC+事務局)
FAX:018-857-3191

Contact お問い合わせ

このページの先頭へ戻る