光・電子デバイス物性解析システム

設備・装置名 光・電子デバイス物性解析システム
技術相談 可能
共同研究 要相談
管理担当者 主担当:電気情報工学科 浅野清光
副担当:電気情報工学科 田中将樹伊藤桂一
設置場所 テクノセンターテクノラボラトリー
仕様

(1)光スペクトルアナライザは、内蔵校正光源と(2種の波長での校正)と大型カラーディスプレイを有し、600~1700nmの波長範囲をカバーしている。分解能帯域幅0.06~10nm、絶対波長確度±0.05nm、波長再現性±0.003nm

(2) 波長可変レーザモジュールは、1460~1580nmの波長レンジを有し、連続した出力パワーで、かつ反射光の波長測定ができる。波長分解能0.1pm、最大出力パワー8dBm

(3)ネットワークアナライザは、フル2ポートエラー補正が可能なSパラメータテストセットが内蔵され、4つのSパラメータが同時に測定でき、各4つのパラメータのスイスチャートが高速に同時に描くことができる。

主な用途

(1)赤から赤外領域の光スペクトルアナライザ、赤外の波長測定メインフレーム付き波長可変レーザ光源による損失テストと反射光スペクトルの測定

(2) 周波数50MHz~20GHz帯におけるQo値、共振周波数、Sパラメータのベクトルネットワークアナライザによる測定

キーワード 光スペクトルアナライザ、波長可変レーザ光源、Qo値、共振周波数、Sパラメータ

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